缺氧缺血性脑病(HIE)是出生前后缺氧引起的脑损伤，是新生儿重症监护病房的常见原因。低温治疗现已成为减少脑损伤的标准治疗方法;对新生儿的头部或全身进行冷却三天可以减缓细胞新陈代谢，使脑细胞避免受伤并从中恢复。

接受这种治疗后，孩子们的表现如何?波士顿儿童医院的一项前瞻性多中心研究首次调查了 HIE 体温过低后第二天的大脑代谢与儿童后来的神经发育之间的联系。

研究发现，大脑代谢——具体来说，大脑耗氧代谢率——是婴儿 18 个月时认知和运动结果的敏感预测因子。该工作发表在《eBioMedicine》杂志上。

测量新生儿的大脑代谢

目前大多数使用近红外光谱(NIRS) 的大脑监测方法都会观察氧饱和度。但他们不监测耗氧量，这还需要测量脑血流量。

在过去的二十年里，胎儿新生儿神经影像和发育科学中心主任艾伦·格兰特医学博士和她在波士顿儿童医院的团队试点了一种无创床边技术来测量新生儿大脑中的氧代谢。它结合了更准确的频域形式 NIRS (FDNIRS) 和漫相关光谱 (DCS)，前者允许对脑组织进行更一致的定量测量，后者是一种用于测量血流的新技术。

FDNIRS 和 DCS 一起量化脑耗氧代谢率 (CMRO2)——大脑功能状况的指标。